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          当前位置:产品介绍 > 表面表征 >奥林巴斯工业显微镜 >激光共聚焦显微镜 >OLS5000 3D测量激光显微镜 产品介绍
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          LEXT OLS5000 3D测量激光显微镜配备的两套光学系统(彩色成像光学系统和激光共焦光学系统)让其能够获取彩色信息、高度信息和高分辨率图像。

          LEXT OLS5000 3D测量激光显微镜有4大关键价值:

          • 捕捉任意表面形状
          • 快速获得可靠数据
          • 使用简单 - 只需放置样品并按一下按钮即可
          • 测量具有挑战性的样品

          价值1:捕捉任意表面形状。

          OLS5000显微镜 OLS5000显微镜

          OLS5000显微镜的技术使其能够进行高分辨率的3D样品测量。

          价值2、快速获得可靠数据

          快速获得可靠数据

          该显微镜的扫描算法既可提高数据质量又可提高速度,从而缩短您的扫描时间,简化您的工作流程,终实现生产力的提升。

          价值3、使用简单,只需放置样品并按一下按钮即可

          OLS5000显微镜测量样品

          LEXT® OLS5000显微镜具有自动数据采集功能,因而无需进行复杂的设置调整。 甚至生疏的用户也可以获得准确的检测结果。

          价值4、可测量具有挑战性的样品

          低输出、非接触式无损激光测量意味着不需要样品制备。可以在不损坏易损性材料的情况下对其进行测量。扩展架可容纳高达210毫米的样品,而工作距离物镜能够测量深度可达25毫米的凹坑。在测量这两类样品时,您只需将样品放在载物台上即可。

          [获取彩色信息]
          彩色成像光学系统使用利用白光LED光源和CMOS相机获取彩色信息。
          [获取3D 高度信息和高分辨率共焦图像]
          激光共焦光学系统采用405纳米激光二极管光源和高灵敏度光电倍增管获得共焦图像。浅焦深使其能够用于测量样品的表面不规则性。

          [405纳米激光光源]

          光学显微镜的横向分辨率随着波长的减小而获得提升。采用短波长激光的激光显微镜相比采用可见光(峰值550纳米)的传统显微镜具有更优的横向分辨率。 OLS5000显微镜利用405纳米短波长激光二极管获得卓越的横向分辨率。

          [激光共焦光学系统]

          激光共焦光学系统仅接收通过圆形针孔聚焦的光线,并非采集从样品上反射和散射的所有光线。这样有助于消除模糊,让其能够获得比普通显微镜对比度更高的图像

          [X-Y扫描仪]

          OLS5000显微镜配有奥林巴斯光学扫描仪。通过将采用电磁感应MEMS谐振扫描仪的X轴与采用Galvano扫描振镜的Y轴相结合,能够让X-Y扫描仪定位于相对物镜瞳镜共轭的位置,因而能够实现具有较低扫描轨迹失真和较小光学像差的卓越X-Y扫描。

          [高度测量原理]

          在测量高度时,显微镜通过自动移动焦点位置获取多个共焦图像。
          根据非连续的焦点位置(Z)和检测光强度(I)可以估算每个像素的光强变化曲线(I-Z曲线),并获得其峰值位置和峰值强度。由于所有像素的峰值位置与样品表面的不规则性相对应,因此可以获得样品表面的3D形状信息。与此类似,通过峰值强度数据可以获得针对样品表面所有位置焦点的图像(扩展图像)。

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